不同的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中有許多的不統(tǒng)一的地方，造成在高低溫試驗(yàn)箱檢驗(yàn)和校準(zhǔn)過程中，同樣的檢驗(yàn)與校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，依據(jù)不同的依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)可以得出不同的結(jié)論，有的依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)可以得出合格的結(jié)論，而有的依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)可以得出相反的不合格結(jié)論。
　　
　　高低溫試驗(yàn)箱的檢驗(yàn)與校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)不同之處：溫度偏差計(jì)算方法的不同
　　
　　GB/T5170.2-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備》中8.4.1條溫度偏差計(jì)算方法是這樣規(guī)定的：設(shè)備在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間各測(cè)量點(diǎn)的實(shí)測(cè)較高溫度、較低溫度與標(biāo)稱溫度的上下偏差，即為高低溫試驗(yàn)箱在該標(biāo)稱溫度下的溫度偏差。計(jì)算公式如下：△Tmax=Tmax-Tn△Tmin=Tmin-Tn式中△Tmax為溫度上偏差；△Tmin為溫度下偏差；Tmax各測(cè)量點(diǎn)在30min內(nèi)的實(shí)測(cè)較高溫度值；Tmin各測(cè)量點(diǎn)在30min內(nèi)的實(shí)測(cè)較低溫度值；Tn為標(biāo)稱溫度值。
　　
　　JJF1101-2003《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備溫度、濕度校準(zhǔn)規(guī)范》中6.3.1條溫度偏差計(jì)算方法是這樣規(guī)定的：△td=td-to式中△td為溫度偏差；to為中心點(diǎn)n次測(cè)量的平均值；td為設(shè)備顯示溫度平均值。
　　
　　GB/T10592-2008《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》中溫度偏差計(jì)算方法是這樣的規(guī)定的：在工作空間中心測(cè)試點(diǎn)的溫度靠前達(dá)到測(cè)試溫度并穩(wěn)定2h后，每隔2min測(cè)試所有點(diǎn)的溫度1次，在30min內(nèi)供測(cè)15次，隔30min在測(cè)1次，以后每隔1h測(cè)試1次，共測(cè)24h。利用24h的測(cè)試數(shù)據(jù)，分別算出較高、較低溫度與該標(biāo)稱溫度下的溫度偏差，以上單位為攝氏度℃。
　　
　　例如在一臺(tái)高低溫試驗(yàn)箱檢驗(yàn)中，標(biāo)稱溫度為100℃，工作空間各測(cè)量點(diǎn)的實(shí)測(cè)較高溫度為102.5℃、較低溫度101.0℃，中心點(diǎn)溫度101.8℃，設(shè)備顯示溫度100℃。按JJF1101-2003中溫度偏差計(jì)算方法計(jì)算：溫度下偏差△td=100-101.8=-1.8＜±2℃，判為合格。可是按GB/T5170.2-2008中溫度偏差計(jì)算方法計(jì)算：溫度下偏差△Tmin=101.0-100=1.0＜±2℃，溫度上偏差△Tmax=102.5-100=2.5℃＞±2℃，卻判為不合格，由上可見，三類檢驗(yàn)與校準(zhǔn)的依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)中溫度偏差計(jì)算方法的不同，會(huì)得出不同的結(jié)論來。